小輻面脈沖太陽光模擬器

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

瞬態(tài)小組件I-V測(cè)試儀（實(shí)驗(yàn)室）該設(shè)備可用于常規(guī)多晶、單晶PERC、TopCon、異質(zhì)結(jié)、CIGS、GaAs、CdTe以及IBC等電池組件的I-V曲線，P-V曲線，輻照度線，短路電流，開路電壓，峰值功率，峰值功率點(diǎn)電壓、電流，填充因子，轉(zhuǎn)換效率，串聯(lián)電阻，并聯(lián)電阻等參數(shù)的測(cè)量。

更新時(shí)間：2025-08-26

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服務(wù)熱線

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

脈沖氙燈太陽光模擬器

IV+EL自動(dòng)分選機(jī) 小幅面脈沖太陽光模擬器脈沖太陽光模擬器-生產(chǎn)線脈沖太陽光模擬器-實(shí)驗(yàn)室

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產(chǎn)品介紹

瞬態(tài)小組件I-V測(cè)試儀(實(shí)驗(yàn)室)主要是用來模擬太陽光和采集晶硅光伏電池的伏安特性曲線的設(shè)備，一般由光源系統(tǒng)、電源系統(tǒng)、采集系統(tǒng)、紅外測(cè)溫探頭、參考電池、顯示器、計(jì)算機(jī)(含測(cè)試軟件)等組成。采用滿足IEC60904-9：2020標(biāo)準(zhǔn)的A+A+A+級(jí)的氙燈瞬態(tài)光源，輻照強(qiáng)度滿足200-1200W/m2可調(diào)，設(shè)備具備溫度修正和光強(qiáng)修正功能，以及對(duì)輻照度狀態(tài)的監(jiān)控功能。該設(shè)備可用于常規(guī)多晶、單晶PERC、TopCon、異質(zhì)結(jié)、CIGS、GaAs、CdTe以及IBC等電池組件的I-V曲線，P-V曲線，輻照度線，短路電流，開路電壓，峰值功率，峰值功率點(diǎn)電壓、電流，填充因子，轉(zhuǎn)換效率，串聯(lián)電阻，并聯(lián)電阻等參數(shù)的測(cè)量。

瞬態(tài)小組件I-V測(cè)試儀(實(shí)驗(yàn)室)主要產(chǎn)品參數(shù)

適配標(biāo)準(zhǔn)

Standard

IEC60904-9:2020

光源類型

Light type

氙燈瞬態(tài)光源

Xenon lamp

光譜范圍

Spectrum wavelength

300-1200nm

光源等級(jí)

Classfication of light source

光譜匹配度 0.875-1.125 A+

輻照度不均勻度 ≤1% A+

輻照度不穩(wěn)定度 ≤1% A+

Spectral match is 0.875-1.125, class A+

Irradiance non-uniformity is ≤1%, class A+

Irradiance instability is ≤1%, class A+

輻照度范圍

Irradiance intensity

200W/㎡~1200W/㎡

測(cè)試面積

Illumination area

? 500*500mm

? 可定制其他尺寸

? 500*500mm

? Other size can be customized

脈沖寬度

Pulse duration

10-100ms，每1ms步進(jìn)可調(diào)

10-100ms, in step of 1ms

重復(fù)性精度

Repeatability

≤0.1%

測(cè)試技術(shù)

Testing technology

標(biāo)配線性掃描、高級(jí)遲滯算法、集成逐次逼近法（SAT）、智能測(cè)試法（IAT）、峰值保持測(cè)試功能

It is equipped with linear scanning, advanced magnetic hysteresis, successive approximation testing(SAT), Intelligent testing (IAT) and peak holding test function.

測(cè)試電池

Measurable cell type

Perc、 Topcon、BC、異質(zhì)結(jié)等高容性電池組件

PERC, TopCon, BC, HJT and other high capacitance solar modules.

可增配項(xiàng)

Optional service

? EL測(cè)試系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)同工位IV/EL測(cè)試

? 集成IR紅外熱像儀，實(shí)現(xiàn)熱斑測(cè)試

? WPVS電池，實(shí)現(xiàn)絕對(duì)測(cè)量

? 低輻照度濾鏡，實(shí)現(xiàn)低輻照度測(cè)試

? EL testing system, to achieve IV testing

and EL testing at a same section.